Programlanabilir termal şok test odası (iki yuvalı tip) CTS-100L
Ürünün uyarlanabilirliğinin ve özelliklerinin test edilmesine ek olarak, genel sıcaklık ve nem kombinasyonu koşulları altında (Yüksek-düşük sıcaklık ve depolama, sıcaklık döngüsü, yüksek sıcaklık ve yüksek nem veya nem yoğunlaşma testi) simüle edilebilir ürünler, düşük nem ve sabit sıcaklık-nem test odası, ürünün çatlamasının ve kırılmasının düşük sıcaklık ve düşük koşullar altında gerçekleşip gerçekleşmeyeceğini de test edebilir nem, yüksek sıcaklık ve düşük nem, yüksek sıcaklık ve yüksek nem, düşük sıcaklık ve yüksek nem. Dahası, düşük nem koşulu altında havadaki statik içerik, genel durumdan çok daha fazladır ve elektronik bileşenlerin çoğu hasarının statikten kaynaklandığı söylenir.
Uluslararası şartname testinin gerekliliklerini karşılamak (IEC, JIS. JB, MIL...) bilişsel farklılıkları önlemek ve ölçüm belirsizliklerini azaltmak için uluslararası ölçüm programlarının (test prosedürleri, koşulları ve yöntemleri dahil) tutarlılığını sağlamak.